Uniwersytet Ekonomiczny w Poznaniu

Katedra Technologii Informacyjnych

  • English
  • Polski
  • Dla kandydatów
  • Dla studentów

O KTI

  • Strona główna
  • Aktualności
  • Profil Katedry
    • Badania Naukowe
    • Dydaktyka
    • Projekty
  • Publikacje
  • Dyżury pracowników
  • Pracownicy
    • Krzysztof Walczak
    • Jakub Flotyński
    • Jarogniew Rykowski
    • Adam Wójtowicz
    • Sergiusz Strykowski
    • Daniel Wilusz
    • Adam Gałązkiewicz
    • Mikołaj Maik
    • Paweł Sobociński
    • Stanisław Kumor
    • Cyryl Leszczyński
    • Michał Śliwicki
    • Tomasz Krokosz
    • Beata Maciejewska
  • Dla studentów
    • Staże Letnie
    • SKN GameDev
    • Złota Mysz
    • Portal Dydaktyczny
    • eSylabus
    • Microsoft Imagine
  • Dla kandydatów
    • E-Biznes
    • AIR
    • Przemysł 4.0
  • Felietony
  • Kontakt

Microprocessor System for Test Generation, Testing and Diagnostics

TytułMicroprocessor System for Test Generation, Testing and Diagnostics
Publication TypeConference Paper
Year of Publication1984
AuthorsBrzeziński, J., W. Cellary, J. Kręglewski, and J. Węglarz
  • BibTex
Katedra Technologii Informacyjnych © 2025
KTI 2011.